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Optische Signalaufbereitung zur dreidimensionalen Formerfassung industrieller Oberflächen

  • Conference paper
Mustererkennung 1985

Part of the book series: Informatik Fachberichte ((INFORMATIK,volume 107))

  • 80 Accesses

Zusammenfassung

Zur objektiven Prüfung industrieller Oberflächen werden Bildverarbeitungssysteme entwickelt, um damit die Sicherung und Steigerung des Qualitätsniveaus von Produkten bei hoher Stückzahl zu erreichen. Häufig ist es notwendig, Formabweichungen, Welligkeiten oder Rauhigkeiten an glänzenden Oberflächen zu erfassen. Berichtet wird über Kontrastierungsverfahren, die durch optische Signalaufbereitung die anschließende elektronische Bildverarbeitung unterstützen. Beispiele sind eine mit Streifenraster belegte Leuchtfläche (strukturierte Beleuchtung) und eine punktförmige Lichtquelle, deren Strahlen mittels Retroreflektor zur Oberfläche ausgerichtet werden (gerichtete Beleuchtung). Eine kompakte Optikanordnung mit Beleuchtungseinrichtung und Bildaufnahmesensor zum Anschluß an einen Industrieroboter wird vorgestellt. Damit ist die Abtastung gekrümmter Oberflächen von großen Formteilen möglich.

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Schrifttum

  1. Ritter, R.: Zur Bestimmung der Balkenkrümmung mit Hilfe des Moiré-Prinzips. Forsch.-Ing.-Wes. 46 (1980)5, S, 164–166

    Article  Google Scholar 

  2. Marguerre, H.: Automatisierte Qualitätsprüfung glänzender Oberflächen an Gebrauchsgegenständen durch strukturierte Beleuchtung. Feinwerktechnik & Meßtechnik 93 (1985)1, S. 35–37

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© 1985 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Marguerre, H. (1985). Optische Signalaufbereitung zur dreidimensionalen Formerfassung industrieller Oberflächen. In: Niemann, H. (eds) Mustererkennung 1985. Informatik Fachberichte, vol 107. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-70638-7_16

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-70638-7_16

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-540-15696-3

  • Online ISBN: 978-3-642-70638-7

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