Zusammenfassung
Der Beitrag zeigt praktische Ergebnisse und die Methode, um Druckvorlagen in eine einheitliche symbolische Beschreibung überzuführen und daraus Text-, Grafik- und Bildkomponenten zu erkennen. Hierzu wird das Wissen über den Aufbau der Dokumente in Grammatiken festgelegt. Gemäß ihrer Aussage wandelt ein Analyseverfahren die Dokumentmuster in hierarchisch organisierte Datenstrukturen um und klassifiziert diese durch Vergleich mit bekannten Modellen.
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Literatur
Niemann H. Klassifikation von Mustern, Springer-Verlag, 1983
Scherl, W. Unified Analysis of Complex Document Patterns, 4th Scand. Conf. on Image Analysis, Norwegen, Trondheim, 1985, pp. 873
3/ Wong A., You M. Entropy and distance measure of random graphs, IEEE Comp. Soc. Conf. on Comp. Vision and Pat. Ree., Washington, 1983, pp. 371
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© 1985 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
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Scherl, W. (1985). Datenstruktur und statistische Modelle zur Dokumentanalyse. In: Niemann, H. (eds) Mustererkennung 1985. Informatik Fachberichte, vol 107. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-70638-7_51
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Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg
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