Zusammenfassung
Aus einer Mikroskopbildserie mit veränderter Fokuseinstellung können dreidimensionale (3D) Informationen des betrachteten Objekts ermittelt werden. Hierzu wird die Fokusserie einer metallischen Oberfläche im Auflichtmikroskop aufgezeichnet. Durch ein Differenzverfahren wird für jeden Punkt in der Bildebene die Tiefe ermittelt und in einer Tiefenkarte eingetragen.
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Referenzen
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Diese Thematik wurde diskutiert in: Hauptseminar zur mehrdimensionalen Systemtheorie und Bildverarbeitung und Mustererkennung, WS 85/86. Lehrstuhl für Nachrichtentechnik der TU München.
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Steurer, J., Giebel, H., Altner, W. (1986). Ein lichtmikroskopisches Verfahren zur zweieinhalbdimensionalen Auswertung von Oberflächen. In: Hartmann, G. (eds) Mustererkennung 1986. Informatik-Fachberichte, vol 125. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-71387-3_12
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