Zusammenfassung
Im Nahbereich werden 3D-Messungen von Oberflächen mit Hilfe von photogrammetrischen Verfahren durch die nur wenige Millimeter betragende Schärfentiefe stark eingeschränkt. Sind die Aufnahmekameras zudem gegeneinander geneigt, um beim Strahlschnitt höhere Genauigkeiten in der Tiefenrichtung zu erreichen, dann reduziert sich der in allen Kameras gemeinsam scharf abgebildete Bereich noch einmal beträchtlich. Hat man überwiegend ebene Flächen zu untersuchen, wie z.B. bei der Verformungsanalyse oder bei der Qualitätskontrolle von Oberflächen, dann kann man die Bildebenen bzw. den CCD-Chip in den Kameras soweit neigen, daß in allen Bildern eine gleichgroße scharfe Zone abgebildet wird (Scheimpflug-Aufnahme). Dadurch ergibt sich andererseits eine kompliziertere Aufnahmegeometrie. Insbesondere sind die Linsenverzeichnungen nicht mehr radialsymmetrisch, was in den Standardprogrammen zur Orientierungsberechnung [1] üblicherweise vorausgesetzt wird. Wendet man sie dennoch an, weisen die Orientierungsparameter große Varianzen auf oder es tritt keine Konvergenz ein.
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Literatur
CAP — Combined Adjustment Program, Users Manual, Fa. Rollei Braunschweig, FRG, 1989
K. Kraus, Photogrammetrie, Vol. 2, Dümmler, Bonn 1984
K. Andresen u. B. Morche, Die Ermittlung von Rasterkoordinaten und deren Genauigkeit, Mustererkennung 1988, p.277–283, 10. DAGM — Sympos. Zürich. Berlin, New York, Tokyo 1988.
K. Andresen a. B. Hübner, Calculation of Strain from an Object Grating on a Reseau Film by a Correlation Method, to be published in Exp. Mechanics, 1992.
K. Andresen, B. Kamp a. R. Ritter, 3D-Contour of Crack Tips Using a Grating Method. Second International Conference on Photomechanics and Speckle Metrology. San Diego 1991. SPIE Proceedings Vols. 1554A (1991), 93–100.
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Andresen, K. (1992). 3D-Vermessungen im Nahbereich mit Abbildungsfunktionen. In: Fuchs, S., Hoffmann, R. (eds) Mustererkennung 1992. Informatik aktuell. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-77785-1_37
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