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Rekonstruktion von Schleifpapieroberflächen für die Qualitätskontrolle

  • Conference paper
Book cover Mustererkennung 1995

Part of the book series: Informatik aktuell ((INFORMAT))

  • 178 Accesses

Zusammenfassung

Ein zentrales Problem bei der industriellen Schleifpapierproduktion hegt in der Bestimmung von Oberflächenparametern, die eine objektive Qualitätskontrolle ermöghchen. Die in der Oberflächenprüfung übHcherweise eingesetzten taktilen Meßverfahren versagen hierbei aufgrund der hohen Rauhigkeit des Materials. In diesem Beitrag wird ein Verfahren vorgestellt, das durch photometrische Stereobildanalyse eine Orientierungskarte eines unter dem Mikroskop aufgenommenen Schleifpapierausschnittes bestimmt. Mittels eines Integrationsverfahrens wird daraus ein Höhenmodell des Ausschnittes berechnet, aus dem sich die gesuchten Oberflächenparameter ableiten lassen. Die mit dem Verfahren erzielten Ergebnisse zeigen, daß auf diese Weise eine objektive Klassifizierung des Schleifpapiers in verschiedene Güteklassen ermöglicht wird.

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Literatur

  1. DIN 4768: Ermittlung der Rauhheitskenngrößen Ra, Rz, Rmax mit elektrischen Tast schnitt geraten. DIN Deutsches Institut für Normung e.V., Mai 1990.

    Google Scholar 

  2. B. K. P. Horn: Robot Vision, MIT Press, 1986

    Google Scholar 

  3. B. K. P. Horn: Height and Gradient from Shading, International Journal of Computer Vision, Vol.5, No.l, 37–75, 1990.

    Article  Google Scholar 

  4. B. K. P. Horn, M. J. Brooks: The Variational Approach to Shape from Shading, Computer Vision, Graphics and Image Processing, Vol. 33, No. 11, 174–208, 1986.

    Article  Google Scholar 

  5. P. Kim, A. Burger: Calculation of Surface Position and Orientation Using the Photometric Stereo Method, IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, 1988.

    Google Scholar 

  6. O. Kranz: Untersuchungen des Abtastvorganges bei der Rauhheitsmessung, PTB-Bericht, Braunschweig, 1980.

    Google Scholar 

  7. D. Lee: Algorithms for Shape from Shading and Occluding Boundaries, IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, 478–485, 1988.

    Google Scholar 

  8. D. Rapröger: Quantitative Messung der 3D-Geometrie einer technischen Oberfläche durch Stereobildpaarauswertung und vergleichende Analyse mit photometrischem Stereo, Diplomarbeit am Institut für Theoretische Nachrichtentechnik und Informationsverarbeitung, Oktober 1994.

    Google Scholar 

  9. T. Simonchy, R. Chellapa: Direct Analytical Methods for Solving Poisson Equations in Computer Vision Problems, IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, Vol.17, No.5, 435–445, Mai 1990.

    Google Scholar 

  10. D. Terzopoulos: The Computation of Vissible-Surface Representations, IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, Vol. 10,No.4, 7–438, 1988.

    Google Scholar 

  11. R. J. Woodham: Photometric method for determining surface orientation from multiple images. Optical Engineering 19 (1980) 139–144

    Google Scholar 

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Rost, U., Koch, R. (1995). Rekonstruktion von Schleifpapieroberflächen für die Qualitätskontrolle. In: Sagerer, G., Posch, S., Kummert, F. (eds) Mustererkennung 1995. Informatik aktuell. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-79980-8_20

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