Zusammenfassung
Bevor hier auf das Thema dieses Vortrags eingegangen werden kann, muß zunächst etwas darüber gesagt werden, was sich hinter dem Begriff ATEDIS verbirgt. Der Name ist eine Abkürzung für „Automatische Test-erstellung bei digitalen Schaltwerken“. ATEDIS steht damit stellvertretend für die Aufgabe, Programme zu entwickeln, die direkt als Prüfprogrammgeneratoren arbeiten oder entsprechende Zuarbeit für solche Generatoren leisten. Das bedeutet, daß es sich bei ATEDIS um eine Reihe von geplanten bzw. vorhandenen Operatoren handelt, wobei wir unter Operator immer ein Programm verstehen, das autonom auf dem Rechner läuft, d. h. also mit einem STARTE-Kommando in Gang gesetzt werden kann.
This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Literaturhinweise
Arthur D. Friedman, Premachandran R. Menon, „Fault Detection in Digital Circuits“, Prentice-Hall, Inc., Englewood Cliffs, New Jersey
F. F. Sellers, M. Y. Hsiao, L. W. Bearnson, „Analyzing errors with the Boolean Difference“, IEEE Trans. Comp. Vol. C. 17. No 7, July 1968, pp. 676–683
K. Pfeuffer, Prüf- und Diagnosetests für sequentielle Schaltwerke, AEG-Telefunken DBS 2700271
I. P. Roth, „Diagnosis of automata failures: a calculus and a method“, IBM J. Res. Rev. Vol. 10, July 1966, pp. 278–291
Editor information
Editors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 1973 Springer-Verlag Berlin · Heidelberg
About this paper
Cite this paper
Pfeuffer, K. (1973). Die Grundlagen des Programms ATEDIS. In: Deussen, P. (eds) GI. Gesellschaft für Informatik e.V. 2. Jahrestagung. Lecture Notes in Economics and Mathematical Systems, vol 78. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-80732-9_46
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-80732-9_46
Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-540-06127-4
Online ISBN: 978-3-642-80732-9
eBook Packages: Springer Book Archive