Zusammenfassung
Ein Verfahren, das die Erkennung von Einfach- und Doppelausfällen in einem zweikanaligen Schaltkreissystem ermöglicht, wird vorgestellt. Um auch Doppelausfälle zu erkennen, werden dynamische Signale zur Darstellung der logischen “Null” und “Eins” verwendet. Jede logische Grundfunktion wird redundant realisiert und überwacht. Das Verfahren ist auch für hoch integrierte Schaltkreise (LSI, VLSI) geeignet, da keine Anforderung an den Ausschluß von Doppelausfällen gestellt wird. Alle Ausfallarten sind daher erkennbar. Das Verfahren ist auch zur Erkennung der n-fachausfälle in einem n-kanaligen System anwendbar. Die Realisierung eines dreikanaligen Systems wird kurz beschrieben. Das neue Verfahren wurde an einem zweikanaligen System praktisch erprobt. Die Anwendung des Verfahrens bietet insbesondere bei der Realisierung von sicheren Systemen Vorteile.
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Literaturverzeichnis
Avizienis, A. et. al (1971). The STAR (Self-Testing-And-Repairing) Computer: An investigation of the theory and practice of faulttolerant computer design. IEEE Trans. Computers Vol. C-20, No. 11, pp 1312–1321
Avizienis, A. (1977). Fault-Tolerant Computing-Progress, Problems and Prospects. Proceedings of the IFIP Conference, pp 59–72
Avizienis, A. (1978). Fault-Tolerance: The Survival Attribute of Digital Systems. Proceedings of the IEEE, Vol. 66, No. 10, pp 1109–1125
Brauer, H. (1981). Das sichere Mikrorechnersystem LOGISAFE. Fachtagung Prozeßrechner, München 1981, pp 261–269
Fleckenstein, J. (1977). Erkennung von Einfach- und Doppelfehlern in einem zweikanaligen Schaltkreissystem. Studienarbeit, Universität Stuttgart
Konakovsky, R. (1977). Definition und Berechnung der Sicherheit von Automatisierungssystemen. Vieweg-Verlag Braunschweig
Konakovsky, R. (1979). On Diversified Parallel Microcomputer System. Proceedings of the IFAC-Workshop on Safety of Computer Control Systems in Stuttgart, pp 81–88
Konakovsky, R. (1979). On Safe Information Processing System. Proceedings of the IFAC-Congress, August 22–28, 1981, Kyoto/Japan
Lauber, R. (1981). Zuverlässigkeit und Sicherheit in der Prozeßautomatisierung. Fachtagung Prozeßrechner, München 1981, pp 52–64
Lohmann, H.L. (1974). URTL Schaltkreissystem U1 mit hoher Sicherheit und automatischer Fehlerdiagnose, Siemens-Zeitschrift 48, No. 7, pp 490–494
Sedmak, R.M. and Liebergot, H.L. (1978). Fault-Tolerance of a General Purpose Computer Implemented by Very Large Scale Integration. Proceedings of the FTCS-8, Toulouse, pp 137–143
Strelow, H., Uebel, H. (1978). Das Sichere Mikrocomputersystem SIMIS. Signal + Draht 70, No. 4, pp 82–86
Wießell, R. (1974). Grundbausteine und Logikbaugruppe des URTLSchaltkreissystems U1. Siemens-Zeitschrift 48 (1974), Heft 7, pp 495–499.
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Konakovsky, R. (1981). Verfahren zur Erkennung von Einfach- und Doppelausfällen in Einem Zweikanaligen Schaltkreissystem. In: Brauer, W. (eds) GI — 11. Jahrestagung. Informatik-Fachberichte, vol 50. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-01089-1_27
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