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Verfahren für Eine Schnelle Konturanalyse

  • Conference paper
Mustererkennung 1987

Part of the book series: Informatik-Fachberichte ((INFORMATIK,volume 149))

  • 74 Accesses

Zusammenfassung

Für die automatische Objektvermessung und Objekterkennung in der industriellen Anwendung werden bevorzugt die Objektkonturen analysiert, und es werden in der Regel hohe Geschwindigkeitsanforderungen an die Konturanalyse gestellt. Um diesen hohen Geschwindigkeitsanforderungen gerecht zu werden, ist es erforderlich, die Gewinnung der gewünschten Konturinformation so in einfache Teilschritte zu gliedern, daß diese mit elektronischen Spezialschaltungen ausführbar sind.

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© 1987 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Hättich, W. (1987). Verfahren für Eine Schnelle Konturanalyse. In: Paulus, E. (eds) Mustererkennung 1987. Informatik-Fachberichte, vol 149. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-22205-8_35

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-22205-8_35

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-540-18375-4

  • Online ISBN: 978-3-662-22205-8

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