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Umgebung für automatisierte Tests von Dateisystemen auf NAND-Flash-Speichern

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Part of the book series: Informatik aktuell ((INFORMAT))

Zusammenfassung

Datenspeicher in Raumfahrtanwendungen sind ein wichtiger Teil des gesamten Systems. Die typischerweise verbauten Speicherchips sind durch ihre hohe Robustheit und besondere Fertigungsgüte sehr teuer. Es ist sinnvoll, stattdessen günstigen aber fehleranfälligen NAND-Flash zu benutzen und ihn durch eine vom Dateisystem gesteuerte Redundanz sicherer zu machen. Um solche Software für konkrete Aufgaben auszuwählen, wird eine Simulationsumgebung entwickelt, mit der Dateisysteme durch allgemeine oder spezifische Benutzungsprofile quantitativ verglichen werden können. Dazu werden im Weltraum herrschende Fehlerquellen klassifiziert, modelliert und als beliebig einsetzbare Module implementiert. Als Fallbeispiel werden die zwei Dateisysteme YAFFS1 und FAT16 integriert und in Experimenten verglichen.

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Pieper, P., Greif, F., Fey, G. (2016). Umgebung für automatisierte Tests von Dateisystemen auf NAND-Flash-Speichern. In: Halang, W., Unger, H. (eds) Internet der Dinge. Informatik aktuell. Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-53443-4_14

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-53443-4_14

  • Published:

  • Publisher Name: Springer Vieweg, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-662-53442-7

  • Online ISBN: 978-3-662-53443-4

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