Der Einsatz integrierter Schaltungen stellt ein potentielles EMV-Problem in der Geräteentwicklung dar. Unzureichende EMV-Eigenschaften von integrierten Schaltungen (ICs) können dazu führen, dass Geräte, in welche diese ICs eingebaut werden, die für die CE-Kennzeichnung geforderten EMV-Geräteanforderungen nicht erfüllen. Daher stellen Geräteentwickler an IC-Hersteller immer häufiger die Forderung nach ICs mit entsprechend "gutem" EMV-Verhalten. Die Messung und Bewertung der Störemission und Störfestigkeit auf IC- und auf Geräte-Ebene erfolgt jedoch nach unterschiedlichen Methoden. Die Frage, inwieweit aus Kenntnissen des EMV-Verhaltens von ICs auf das EMV-Verhalten eines fertigen Gerätes geschlossen werden kann, ist nicht einfach zu beantworten. Dieser Beitrag soll ein Mosaiksteinchen in Richtung der Beseitigung dieses Missing Links sein.
In modern electronic system design integrated circuits (ICs) can be the source for potential EMC problems. They are often the reason, why an electronic device does not meet the regulatory requirements. Therefore electronic device designers demand for ICs with "good" EMC performance. However, EMC assessment on system level and on IC level uses different methods. It is not easy to say, in which way a forecast of the EMC behavior for an application is possible on the basis of EMC measurement results at IC level. This article is a contribution in order to fill this gap.
This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.
Literatur
Deutschmann, B., Winkler, G., Ostermann, T., Lamedschwandner, K. (2004): Electromagnetic immunity: system- versus chip-level. EMC Europe 2004, Int. Symp. on Electromagnetic Compatibility, September 6–10, 2004, Eindhoven University of Technology, The Netherlands, Proceedings Volume II: 843–848.
IEC 61967-1, Ed. 1.0: Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz – Part 1: General conditions and definitions. 47A/632/FDIS.
IEC 61967-2: Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz – Part 2: Measurement of radiated emissions, TEM-cell method and wideband TEM-cell method (150 kHz to 8 GHz). 47A/673/CD.
IEC 62132-1, Ed. 1: Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 1: General and definitions. 47A/618/CD.
IEC 62132-4: Direct RF power injection to measure the immunity against conducted RF-disturbances of Integrated circuits up to 1 GHz. 47A/658/CD.
Ostermann, T., Deutschmann, B., Lamedschwandner, K., Winkler, G. (2004): Das "Missing Link" der EMV zwischen Geräte- und IC-Ebene. Austrochip-Tagung 2004, 8. Okt. 2004, FH-Technikum Kärnten, Villach, Proceedings: 111–117.
ÖVE/ÖNORM EN 55022:1998+A1:2000+A2:2003: Einrichtungen der Informationstechnik – Funkstöreigenschaften – Grenzwerte und Messverfahren. Ausgabe: 2003-11-01, Österreichischer Verband für Elektrotechnik.
ÖVE/ÖNORM EN55024:1998+A1:2001+A2:2003: Einrichtungen der Informationstechnik – Störfestigkeitseigenschaften – Grenzwerte und Messverfahren. Österreichischer Verband für Elektrotechnik.
ÖVE/ÖNORM EN 61000-4-6:1996+A1:2001: Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV), Teil 4-6: Prüf- und Messverfahren – Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störgrößen, induziert durch hochfrequente Felder. Ausgabe: 2002-02-01, Österreichischer Verband für Elektrotechnik.
Richtlinie 95/54/EG der Kommission vom 31. Oktober 1995 zur Anpassung der Richtlinie 72/245/EWG des Rates zur Angleichung der Rechtsvorschriften der Mitgliedstaaten über die Funkentstörung von Kraftfahrzeugmotoren mit Fremdzündung an den technischen Fortschritt und Zur Änderung der Richtlinie 70/156/EWG des Rates zur Angleichung der Rechtsvorschriften der Mitgliedstaaten über die Betriebserlaubnis von Kraftfahrzeugen und Kraftfahrzeuganhängern.
Richtlinie 89/336/EWG des Rates vom 3. Mai 1989 zur Angleichung der Rechtsvorschriften der Mitgliedstaaten über die elektromagnetische Verträglichkeit. Amtsblatt der Europäischen Gemeinschaften L 139, 23.5.1989
Richtlinie der Kommission 2004/104/EG vom 14. Oktober 2004 zur Anpassung der Richtlinie 72/245/EWG des Rates über die Funkentstörung (elektromagnetische Verträglichkeit) von Kraftfahrzeugen an den technischen Fortschritt und zur Änderung der Richtlinie 70/156/EWG des Rates zur Angleichung der Rechtsvorschriften der Mitgliedstaaten über die Betriebserlaubnis von Kraftfahrzeugen und Kraftfahrzeuganhängern. Amtsblatt der Europäischen Union L 337, 13.11.2004: 13–58.
Richtlinie 2004/108/EG des Europäischen Parlaments und des Rates vom 15. Dezember 2004 zur Angleichung der Rechtsvorschriften der Mitgliedstaaten über die elektromagnetische Verträglichkeit und zur Aufhebung der Richtlinie 89/336/EWG. Amtsblatt der Europäischen Union L 390, 31.12.2004: 24–37.
Winkler, G., Deutschmann, B., Lamedschwandner, K., Ostermann, T. (2003): Störemission integrierter Schaltungen im Vergleich zur Störstrahlung elektronischer Geräte. Informationstagung Mikroelektronik, 1.-2. Okt. 2003, Wien, Tagungsband ÖVE-Schriftenreihe Nr. 33: 221–226.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Lamedschwandner, K., Deutschmann, B., Winkler, G. et al. Vergleichende EMV-Untersuchungen auf Geräte- und IC-Ebene. Elektrotech. Inftech. 123, 9–14 (2006). https://doi.org/10.1007/s00502-006-0306
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1007/s00502-006-0306
Schlüsselwörter
- Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV)
- Störemission
- Störfestigkeit
- Elektronische Geräte
- Integrierte Schaltkreise
- Konformitätsbewertung