Seit den Tagen der ersten Entwicklungen von elektronischen Geräten und Systemen gibt es auch entsprechende Probleme mit unzulässig hohen Störemissionen und unzureichender Störfestigkeit. Die Sicherstellung der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) eines elektronischen Gerätes stellte von Anfang an schon immer eine gewisse Herausforderung dar. Der gewaltige Fortschritt auf dem Gebiet der integrierten Schaltungstechnik machte aber auch für die Halbleiterhersteller die EMV zu einem wichtigen Thema, da die EMV-Eigenschaften eines ICs einen wesentlichen Einfluss auf die EMV des gesamten elektronischen Systems haben können. Dieser Beitrag soll einen kurzen Überblick über die häufigsten Quellen der Störemission von ICs geben. Gleichzeitig soll gezeigt werden, wie die Störsemissionen von ICs charakterisiert werden können und worauf bei der Auswahl von ICs für elektronische Geräte geachtet werden soll.
Since the early days of electronic device and system developments, corresponding problems with high electromagnetic emissions and insufficient immunity exist. Meeting the electromagnetic compatibility (EMC) requirements of electronic equipment always represented a certain challenge. In addition, the enormous developments in the area of the integrated circuit technology forced the semiconductor manufacturers to deal with this subject, as the EMC of ICs can have a substantial influence on the EMC behaviour of the entire electronic system. This contribution gives a short overview of the most frequent sources of the electromagnetic emissions of ICs, how these emissions can be characterized and what should be taken into consideration when selecting ICs for electronic system developments.
Literatur
IEC 61967 Part 1–6, Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz. http://www.iec.ch/.
IEC 62132 Part 1–5: Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz. http://www.iec.ch/.
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Deutschmann, B. ICs als Quelle der Störemissionen von elektronischen Geräten und Systemen?. Elektrotech. Inftech. 123, 15–21 (2006). https://doi.org/10.1007/s00502-006-0317
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1007/s00502-006-0317
Schlüsselwörter
- Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV)
- IEC 61967
- TEM-Zelle
- IEC 62132
- IC
- Surface scan
- Elektromagnetische Störemission