マルチプルレゾリューション / Multiple Resolution
■ DOI
:
10.14989/doctor.k19137
登録機関名 / Registration Institution Name
最終更新日 / Last Update
1
機関リポジトリ/Institutional Repository
2023/10/19
2
国立国会図書館/National Diet Library
2023/12/13
■ タイトル情報 / Title Information
タイトル / Title
:
Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits
言語 / Language
:
英語 /English
タイトル / Title
:
バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
言語 / Language
:
日本語 /Japanese
■ 筆頭著者名情報 / First Author Information
著者名(姓) / Surname
:
松本
著者名(名) / Given Name
:
高士
言語 / Language
:
日本語 /Japanese
著者名(姓) / Surname
:
Matsumoto
著者名(名) / Given Name
:
Takashi
言語 / Language
:
英語 /English