Minimal-Testsätze zur Erkennung und zur Lokalisierung von Einzelfehlern in Schaltnetzen / Minimum test sets to detect and locate single faults in combinational circuits

W. Geisselhardt

doi:10.1524/itit.1973.15.16.165

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Geisselhardt, W.. "Minimal-Testsätze zur Erkennung und zur Lokalisierung von Einzelfehlern in Schaltnetzen / Minimum test sets to detect and locate single faults in combinational circuits" it - Information Technology, vol. 15, no. 1-6, 1973, pp. 165-170. https://doi.org/10.1524/itit.1973.15.16.165

Geisselhardt, W. (1973). Minimal-Testsätze zur Erkennung und zur Lokalisierung von Einzelfehlern in Schaltnetzen / Minimum test sets to detect and locate single faults in combinational circuits. it - Information Technology, 15(1-6), 165-170. https://doi.org/10.1524/itit.1973.15.16.165

Geisselhardt, W. (1973) Minimal-Testsätze zur Erkennung und zur Lokalisierung von Einzelfehlern in Schaltnetzen / Minimum test sets to detect and locate single faults in combinational circuits. it - Information Technology, Vol. 15 (Issue 1-6), pp. 165-170. https://doi.org/10.1524/itit.1973.15.16.165

Geisselhardt, W.. "Minimal-Testsätze zur Erkennung und zur Lokalisierung von Einzelfehlern in Schaltnetzen / Minimum test sets to detect and locate single faults in combinational circuits" it - Information Technology 15, no. 1-6 (1973): 165-170. https://doi.org/10.1524/itit.1973.15.16.165

Geisselhardt W. Minimal-Testsätze zur Erkennung und zur Lokalisierung von Einzelfehlern in Schaltnetzen / Minimum test sets to detect and locate single faults in combinational circuits. it - Information Technology. 1973;15(1-6): 165-170. https://doi.org/10.1524/itit.1973.15.16.165

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