Schnelle Rechnergestützte Entzerrung Optisch Verzeichneter Binärbilder mit Hilfe Eines Interaktiven Bildspeichersystems

Zusammenfassung

Das dargestellte Verfahren eliminiert den Einfluß von nicht ausreichend linearen Abbildungen in Licht- und Elektronenoptik. Dabei wird das Blickfeld in eine Anzahl kleiner Rasterquadrate aufgeteilt. Mit Hilfe eines Objektmikrometers werden Koordinatenkorrekturwerte für jedes Rasterquadrat berechnet und abgespeichert. Die Korrektur des aktuellen Binärbildes geschieht in einem sehr flexiblen und schnellen interaktiven Bildspeichersystem. Dieser Halbleiterbildspeicher ist in der Lage, mehrere Binärbilder in verschiedenen Ebenen gleichzeitig zu halten und über eine ALU in Echtzeit zu verarbeiten. Das Binärbild wird in den erwähnten Quadraten entsprechend den Meßdaten repositioniert.

Summary

The process presented eliminates the influence of insufficient linearity caused by light and electron optics. This is done by dividing the field of view into a number of scanning squares. Correction values for the coordinates of each square are computed and stored by means of an object micrometer. The actual binary image is corrected using a very flexible and fast interactive image store system. This semiconductor image memory is able to store several binary images in different planes simultaneously and to process them via an ALU in real time. The binary image is corrected by repositioning the individual squares with respect to the measured data. The binary image is corrected by repositioning the individual squares with respect to the measured data.