Kurzfassung
Zur Testmustergenerierung verwendet man im allgemeinen lokal arbeitende Algorithmen, die einen schaltungsabhängigen Lösungsraum durchsuchen. Dabei können Konflikte auftreten, die mit Hilfe von Backtracking-Verfahren aufgelöst werden. Wir präsentieren hier eine Methode, die es erlaubt, globale Schaltungseigenschaften bei der Testmustergenerierung auszunutzen. Am Beispiel des FAN-Algorithmus wird demonstriert, wie diese Methode einen hierarchischen Einsatz solcher Algorithmen ermöglicht und die Anzahl der Backtracks entscheidend reduziert.
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Literatur
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Hofestädt, H., Vogt, M. (1988). Wertebereichsanalyse zur Unterstützung einer hierarchischen Testmustergenerierung. In: Valk, R. (eds) GI — 18. Jahrestagung II. Informatik-Fachberichte, vol 188. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-74135-7_8
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