Skip to main content

Testen von Software durch Mutationsanalyse: „ja, bitte“ wegen der hohen Qualität oder „nein, danke“ wegen des Aufwands und der prinzipiellen Probleme?

  • Conference paper
Informatik zwischen Wissenschaft und Gesellschaft

Part of the book series: Informatik-Fachberichte ((INFORMATIK,volume 309))

  • 98 Accesses

Abstract

Ausgehend von den Problemen existierender Testmethoden, die sich am Kontroll- oder Datenfluß orientieren, wird die Mutationsanalyse als alternative Testmethode vorgestellt, die einen entscheidenden Vorteil hat: sie kann mit (fast) beliebigen Fehlermodellen arbeiten. Da es sich bei der Mutationsanalyse nur um eine Methode zur Bewertung von Testdatenniengen handelt, wird eine Erweiterung dieser Methode vorgestellt, die sich der symbolischen Ausführung von Programmen bedient und damit Testdaten erzeugen kann. Für eine Reihe von Problemen dieser Methode werden Lösungen aufgezeigt (die restlichen Probleme sind unvermeidbar).

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this chapter

Chapter
USD 29.95
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
eBook
USD 54.99
Price excludes VAT (USA)
  • Available as PDF
  • Read on any device
  • Instant download
  • Own it forever
Softcover Book
USD 69.99
Price excludes VAT (USA)
  • Compact, lightweight edition
  • Dispatched in 3 to 5 business days
  • Free shipping worldwide - see info

Tax calculation will be finalised at checkout

Purchases are for personal use only

Institutional subscriptions

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Literatur

  1. Brooks, M.F. Determining Correctness by Testing, Stanford University, Ph.D., Mai 1980, Ann Arbor, Mi., University Microfilms Int., 1981

    Google Scholar 

  2. DeMillo, R.A.; Guindi, D.S.; McCracken, W.M.; Offut, A.J.; King, K.N. An Extended Overview of the Mothra Software Testing Environment, in: Proc. 2nd Workshop on Software Testing, Verification, and Analysis, 1988, Banff, Kanada, ACM/IEEE, pp. 142–151

    Google Scholar 

  3. Girgis, M.R.; Woodward, M.R. An Experimental Comparison of the Error Exposing Ability of Program Testing Criteria, in: Proc. Workshop on Software Testing, 15.-17. Juli 1986, Banff, Kanada, ACM/IEEE, pp. 64–73

    Google Scholar 

  4. Howden, W. Completeness Criteria for Testing Elementary Program Functions, in: Proc. 5th International Conference on Software Engineering, San Diego, März 1981, pp. 235–243

    Google Scholar 

  5. Howden, W.E. Weak Mutations Testing and Completeness of Test Sets, IEEE Transactions on Software Engineering, SE — 8 (4), Juli 1982, pp. 371–379

    Google Scholar 

  6. Huang, J.C. An Approach to Program Testing, in: Tutorial Software Testing & Validation Techniques, ACM/IEEE, 1978, pp. 246–261

    Google Scholar 

  7. Krauser, E.W.; Mathur, A. P.; Rego, V. High Performance Testing On SIMD Machines, in: Proc. 2nd Workshop on Software Testing, Verification, and Analysis, 1988, Banff, Kanada, ACM/IEEE, pp. 171–177

    Google Scholar 

  8. Offut, A.J. The Coupling Effect: Fact or Fiction? Software Engineering Notes 14 (8), Dezember 1989, pp. 131–140

    Google Scholar 

  9. Riedemann, E.H. Testen von sicherheitsrelevanten Softwaresystemen mit Hilfe von Mutationsanalyse und symbolischer Ausführung, in: 4. Kolloquium Software-Entwicklungs-Systeme und -Werkzeuge, Technische Akademie Esslingen, 3.–5. Sept. 1991, pp. 24.3–1 bis 24.3–6

    Google Scholar 

  10. Zeil, S J. Testing for Perturbations of Program Statements, IEEE Transactions on Software Engineering SE — 9 (3), Mai 1983, pp. 335–346

    Google Scholar 

Download references

Author information

Authors and Affiliations

Authors

Editor information

Editors and Affiliations

Rights and permissions

Reprints and permissions

Copyright information

© 1992 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

About this paper

Cite this paper

Riedemann, E.H. (1992). Testen von Software durch Mutationsanalyse: „ja, bitte“ wegen der hohen Qualität oder „nein, danke“ wegen des Aufwands und der prinzipiellen Probleme?. In: Kreowski, HJ. (eds) Informatik zwischen Wissenschaft und Gesellschaft. Informatik-Fachberichte, vol 309. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-77449-2_10

Download citation

  • DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-642-77449-2_10

  • Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg

  • Print ISBN: 978-3-540-55389-2

  • Online ISBN: 978-3-642-77449-2

  • eBook Packages: Springer Book Archive

Publish with us

Policies and ethics