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Zum automatischen Einfügen von Testpunkten in sequentielle Schaltungen

  • Conference paper
Rechnergestützter Entwurf und Architektur mikroelektronischer Systeme

Part of the book series: Informatik—Fachberichte ((INFORMATIK,volume 255))

  • 36 Accesses

Kurzfassung

Ein Algorithmus zum automatischen Einfügen von Testpunkten in sequentielle Schaltungen wird vorgestellt, der auf der Kenntnis von Rekonvergenzen und Kreisen im Schaltkreis beruht. Die Untersuchung des entsprechenden Programms (TIP — Testpoint Insertion Program) an Hand von veröffentlichten Testschaltungen zeigt, daß es einem kommerziellen Werkzeug bezüglich Rechenzeiten und Flächenbedarf überlegen ist. Es wird weiterhin demonstriert, daß gegenüber einem vollständigen Prüfpfad erhebliche Einsparungen möglich sind.

Ausblickend werden sowolil weitere Verwendungsmöglichkeiten des Wissens über Kreise und Rekonvergenzen genannt als auch Wege der zukünftigen Entwicklung für das Einfügen von Testpunkten aufgezeigt.

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Literaturverzeichnis

  1. Aho, A.V.: Data structures and algorithms.. Addison-Wesley series in computer science and information processing, London, 1983.

    MATH  Google Scholar 

  2. Agrawal, V.D.; Cheng, K.-T.; Johnson, D.D. und Tonysheng L.: Designing Circuits with Partial Scan. IEEE Design Sc Test of Computers, S. 8–15, April 1988.

    Google Scholar 

  3. Brglez, F.; Bryan, D. and Kozminski, K.: Combinational Profiles of Sequential Benchmark Circuits. Proc. IEEE ISCAS, 1989.

    Google Scholar 

  4. Cheng, K.-T. und Agrawal, V.D.: An Economical Scan Design for Sequential Logic Test Generation. FTCS, S. 28–35, 1989.

    Google Scholar 

  5. Fujiwara, H.: Logic Testing and Design for Testability. Computer Science Series, The MIT Press, Cambridge, Massachusetts, 1985.

    Google Scholar 

  6. Garey, M.R.; Johnson, D.S.: Computers and Intractability: A Guide to the Theory of NP-completeness. W.H. Freemann & Company, San Francisco 1979.

    Google Scholar 

  7. Johnson, D.B.: Finding all the elementary circuits of a directed graph. SIAM J. Comput., Vol. 4, No. 1, S. 77–84, March 1975.

    MATH  Google Scholar 

  8. Kunzmann, A.: Produktionstest synchroner Schaltwerke auf der Basis von Pipelinestrukturen. Proc. 18. GI-Jahrestagung, Springer, Berlin, S. 92–105, 1988.

    Google Scholar 

  9. HHB: Intelligen documentation package. Mahwah, New Jersey, 1989.

    Google Scholar 

  10. Matthäus, C.: EX TEST: Ein regelbasiertes System zur Unterstützung des Entwurfs gut testbarer, digitaler, hochintegrierter Schaltungen. Ges. für Mathematik und Datenverarbeitung mbH, Sankt Augustin, 1988.

    Google Scholar 

  11. Sandmeier, C.: Zur Verbesserung der Testbarkeit digitaler Schaltungen. Diploma thesis at “Lehrstuhl für rechnergestütztes Entwerfen”, Universität München, 1989.

    Google Scholar 

  12. Savir, J.: Good Controllability and Observability Do Not Guarantee Good Testability. IEEE Trans. on Computers, Vol. C-32,No. 12, S. 1198–1200, Dec. 1983.

    Article  Google Scholar 

  13. Schläper, J.: Fehlerlokalisierung in Digitalschaltungen mit Hilfe des Aquivalenzklassenverfahrens. Dissertation an der Fakultät der Elektrotechnik der Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule, Aachen 1976.

    Google Scholar 

  14. Schulz, M.H.: Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität, Informatik-Fachberichte 173. Springer Verlag, Heidelberg, 1988.

    Google Scholar 

  15. Totton, K. and Shan, S.: Self-test: the solution to the VLSI test problem ?. IEE Proceedings, Vol 135, Pt. E, Nr 4, S. 190–195, July 1988.

    Google Scholar 

  16. Tsui, F. F.: LSI/VLSI Testability Design. MCGraw-Hill Book Company, New York, 1987.

    Google Scholar 

  17. Wunderlich, H.-J. and Hellebrand, S.: The Pseudo-Exhaustive Test of Sequential Circuits. ITC, S. 19–27, 1989.

    Google Scholar 

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© 1990 Springer-Verlag Berlin Heidelberg

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Gundlach, H., Müller-Glaser, K.D. (1990). Zum automatischen Einfügen von Testpunkten in sequentielle Schaltungen. In: Reusch, B. (eds) Rechnergestützter Entwurf und Architektur mikroelektronischer Systeme. Informatik—Fachberichte, vol 255. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-84304-4_15

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