Un Algoritmo de Muestreo exacto para BRDFs Arbitrarias
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Date
2008
Authors
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Publisher
The Eurographics Association
Abstract
Este trabajo presenta un algoritmo para el muestreo eficiente y exacto de BRDF genéricas, esto es, apto para cualquiera de los modelos de BRDFs analíticos o adquiridos de la literatura de informática gráfica. Nuestro objetivo principal consiste en proporcionar una función de probabilidad utilizable en algoritmos de iluminación global basados en métodos de Monte-Carlo, que permita un muestreo por importancias proporcional al producto de la función BRDF y un termino coseno. Mediante la subdivisión adaptativa de la BRDF en el disco unidad, obtenemos una estructura jerárquica o quadtree que nos permite aplicar un muestreo por rechazo optimizado en los nodos. El número medio de intentos en el muestreo está acotado y es parámetro de la estructura utilizada. El método se aplica al muestreo de cualquier modelo de BRDF sin necesidad de guía por parte del usuario
Description
@inproceedings{10.2312:LocalChapterEvents/CEIG/CEIG08/199-208,
booktitle = {CEIG 08 - Congreso Espanol de Informatica Grafica},
editor = {Luis Matey and Juan Carlos Torres},
title = {{Un Algoritmo de Muestreo exacto para BRDFs Arbitrarias}},
author = {Montes, R. and Urena, C. and Lastra, M. and Garcia, R.},
year = {2008},
publisher = {The Eurographics Association},
ISBN = {978-3-905673-69-2},
DOI = {10.2312/LocalChapterEvents/CEIG/CEIG08/199-208}
}